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该文对硅熔体的基本物理性质、密度、表面张力、粘度、电阻率、介电常数的最新实验结果进行了综述。发现在硅的熔点（约为１４１５℃）以上１５～２０的温区存在明显的异常现象；尽管硅熔体与一般的液态金属还不尽相同，但在对硅熔体电阻率的研究中，发现可以用自由电子模型来很好地解释实验结果。介电常数也遵从自由电子（Ｄｒｕｄｅ）模型。这些最新实验结果与过去的文献报道值相差甚远。如：密度大２～３℅、表面张力小２０～３０℅、粘度大４０℅、电导率小８℅。在熔点附近，熔体的密度和表面张力是杂质的敏感量。硅熔点附近物理性质的这些异常，认为是由于硅原结构状态的变化而引起的。