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目的:探讨运用PASS矫治技术治疗安氏I类上颌尖牙唇向低位的错牙合畸形矫治前后磨牙支抗的控制情况。材料和方法:选取大连市奥索口腔医疗有限公司金州门诊部2013年7月收治的安氏I类上颌尖牙唇向低位错牙合畸形的女性患者一例,年龄11周岁,汉族。面部左右基本对称,直面型,左、右侧磨牙中性关系,上颌拥挤10mm,下颌拥挤6mm,13、23唇向低位。使用Ortho Technology(OT)Sensation托槽结合PASS矫治技术采取减数4颗第一双尖牙的矫治计划对该病例进行治疗。结果:经过14个月的矫治疗程,患者牙列排列整齐,磨牙及尖牙I类关系,覆牙合、覆盖正常,侧貌良好。将患者矫治前后的头颅侧位片进行结构重叠,颅底重叠可见:上下颌骨无明显旋转,垂直向控制良好。并进行草杷分析定量的发现上磨牙近中移动2.5mm,下磨牙近中移动2mm,均小于拔牙间隙的1/4,达到了强支抗控制的效果,因此上下磨牙在治疗过程中支抗均控制良好。又通过对三维数字化模型重叠分析,可以直观的发现,经过矫治:上、下磨牙近中移动,略微后倾,但移动量均未超过拔牙间隙的1/4,进一步说明上下磨牙的支抗控制良好。另外将矫治前后的X线头影测量进行对比我们还发现:FMA无明显变化,提示垂直向控制良好;Z角增加3°,提示侧貌良好。矫治后的全口曲面断层片效果如下:牙根平行,未见明显吸收,牙周组织未见异常。结论:对于安氏I类上颌尖牙唇向低位错牙合畸形的患者,运用PASS矫治技术,既可以有效的控制传统颊管引起的磨牙支抗丧失的缺陷,又可以避免自然生长引起的生理性支抗的丢失,从而达到了强支抗控制。PASS矫治技术无需其他口内或者口外装置增强支抗,使矫治程序得以优化。