BIT（build-in test）即内建测试,是一种可以让设备进行自检测的机制,也是可测试性设计的一种实现技术。内建自测试系统的目的主要是简化产品测试的复杂度,从而降低成本,同时还能减少对外部测试设备的依赖程度。随着BIT技术的应用范围和复杂程度日益增加,实现BIT的自动监测,能进一步提升测试效率节省资源。本文以通信类装备为嵌入式测试对象,其包括射频信号测量模块、中频信号测量模块、模拟信号测量模块和数字芯片测量模块。针对此测试对象,本文设计了一款自动监测软件系统,共分为三个部分,分别是模拟信号测试功能模块、数字芯片边界扫描测试与故障诊断功能模块和后台数据存储显示功能模块。模拟信号测试模块能够按照用户提前设置好的命令控制BITE硬件系统完成射频功率和射频频率的监测显示、中频AM调制信号、FM调制信号的监测显示和8通道低频模拟电压信号的监测显示;系统的数字芯片的边界扫描测试和故障诊断模块完成BSDL文件的读取与分析、网表文件的读取与分析、数字芯片测试向量的生成和芯片故障诊断,之后还能将各个数字芯片故障诊断的测试指令执行结果以图形的方式显示出来。其中对于数字芯片测试与故障诊断模块,本文讨论了数字芯片测试向量生成的四种算法,分别是移步“1”算法、改良计数序列算法（MCSA算法）、等权值算法和网络分组移位算法,另外,本文从生成测试向量的紧凑度和执行效率角度对以上四种算法进行了研究。后台数据存储显示模块的功能是存储四个测试模块在监测过程中产生的数据;同时,用户也能通过页面设定相应测试模块的筛选参数来进行监测数据的检索,进而实现监测数据的回溯。本文搭建完前文所述的软件系统的三大模块后,还设计并实现了BITE硬件平台自动检定模块,并且通过该模块完成了对BITE硬件平台的自动检定。最后,本文在已经搭建好的BITE硬件平台上对此系统进行了测试,其实现了对整个BITE模块的自动监测,并且各个自动监测模块均能正常的工作。此外,这个自动测试的后台系统也能完整的记录自动监测过程中产生的数据,达到了Build-in Test模块的自动监测软件系统的预期效果。