集成电路的故障诊断是集成电路设计与生产过程中的一个重要部分。诊断分故障检测和故障定位两部分。传统的基于电压的功能测试方法在理论方面的研究已经比较成熟,并且得到了广泛的应用。但这种方法无法有效的检测某些故障,对于现代高性能集成电路是不充分的。基于电流的故障诊断方法包括静态电流诊断方法(IDDQ)和动态电流诊断方法(IDDT),是近期发展起来的新方法。它通过从电源电流信号中提取有效的信息来进行故障诊断,能够提高故障覆盖率,降低测试成本并提高集成电路产品的质量与可靠性。它可以弥补传统方法的许多不足之处,是传统方法的重要补充。电流测试方法有着非常广阔的应用前景,但理论上还未成熟,许多问题有待研究。本文着重在静态电流检测方法、动态电流检测方法以及故障定位算法三个方面进行了研究。在静态电流检测方面,首先阐述了IDDQ检测的基本原理以及优缺点;分析了深亚微米技术对IDDQ测试的影响以及IDDQ的改进方法。并对CMOS电路与BiCMOS电路的桥接故障作了IDDQ检测仿真实验,分析了IDDQ检测的故障覆盖率。在动态电流检测方面,首先分析了动态电流检测的可行性,然后解释了动态电流检测的基本原理并对现有动态电流处理方法作了比较与分析。并通过仿真实验,分析了动态电流检测方法对CMOS与BiCMOS电路中短路故障、开路故障、晶体管参数错误的测试情况。此外,针对较难检测的延迟故障,专门讨论了适合于延迟故障检测的电流测试方法。在故障定位算法方面:本文设计了一种基于电流信息的电路故障定位算法,该算法将静态电流诊断方法与基于小波分析的动态电流诊断方法相结合,并通过模式识别进行决策,可以实现CMOS集成电路多故障的准确定位。并通过PSPICE模拟电路与MATLAB处理数据的仿真实验,证明了该算法的可行性和有效性。