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集成电路(Integrated Circuit,简称IC)的设计验证与测试对保证其功能的正确性和可靠性非常重要,而时序电路测试生成则是其中一个相当困难的问题。本文在综述集成电路测试与设计验证的方法与技术的基础上,针对目前电路设计广泛采用的寄存器传输级(Register Transfer Level,简称RTL)的行为描述,提出了一种有效的测试生成方法,其生成的测试序列不仅可以用于电路的设计验证,而且可以供芯片的功能测试之用。本文的创新点如下:1.针对RTL行为描述,提出了精确而简练的抽象表示:进程是RTL行为描述的基本成分,其中的语句是过程性语句。通过抽象,本文将进程中语句的控制结构表示为“进程控制树”,将其中数据关系表示为“数据流向图”,且将其定义的电路行为表示成“定义行为图”。这些抽象表示是实现本文方法的基础。2.针对RTL行为的抽象,提出了用行为倾向驱动引擎展现电路行为的方法:所谓行为倾向,就是电路在当前状态下,最有可能表现电路行为的一次状态变迁。采用驱动引擎,可以自动地从电路的初始化状态开始,针对其行为倾向,形成一个状态变迁序列来展现电路的行为。在序列形成过程中,它所需要的输入激励序列被自动地产生出来。这种电路行为展现方式是本文方法的关键。3.利用行为倾向驱动引擎和自定义的RTL传输故障实现了无回溯的RTL测试生成算法:RTL传输故障是根据数据的传输关系定义的,检测这些故障不仅可以测试电路的功能,而且可以测试其芯片的故障。因此,针对RTL做测试生成是有意义的。为了使算法具有很高的效率,本文采用无回溯的测试生成方案,利用行为倾向驱动引擎展现电路行为的方式简单实现之。通过对ITC99基准电路进行实验表明,本文提出的方法较基于遗传算法的RTL测试生成方法平均要快至少3个数量级,而且得到的测试序列长度平均要短4%,相应的门级固定型故障覆盖率平均要高0.2%。这说明,本文的方法可以非常高效地产生质量相当甚至更好的测试序列。