随着存储测试系统的不断发展，其应用的环境越来越复杂，所记录的数据量越来越大，产品更新换代的周期越来越短。目前的存储测试系统普遍存在容量小、功耗大、开发周期长等缺点，本文在此基础上提出了模块化大容量测试系统的设计与实现。本文在对存储测试系统在国内外的研究现状的基础上，通过对测试系统各项技术指标和功能进行分析之后，提出了测试系统的总体的设计方案。本文主要介绍了大容量存储测试系统的设计与实现，并将系统中的各个控制单元进行了模块化的设计。论文首先分析了存储测试系统国内外的现状，介绍了测试系统设计时的基本的原则和理论，在存储测试理论的基础上，利用VHDL语言在CPLD内部完成了对各个控制单元的模块化的设计，并利用ModelSim仿真软件对其进行了仿真，其中包括A/D转换器控制模块、采样频率可调模块、FIFO缓存模块、FLASH存储软核模块、USB通信模块等。论文介绍了测试系统的硬件实现过程，通过对测试系统采集到的数据进行的分析，证实了系统中各项指标都已达到预期的要求，本系统在设计的过程中，将CPLD内部的各个控制单元模块化，在以后的项目开发中，可以直接调用所设计的模块单元，大大的缩短了项目开发的周期。文章最后，对本测试系统的不足之处做了详细说明，并对该测试系统的应用前景进行了展望，目前，本系统所设计的FLASH存储器控制软核、USB控制器的软核已成功的应用于某项目的开发中。