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随着集成电路技术不断发展,互连RC(R为电阻,C是介质电容)延迟却逐步增大。从130nm技术阶段开始,其已成为影响电路速度的主要矛盾。为提高互连性能,采用新的低电阻率金属互连材料(Cu)和低介电常数互连介质材料的铜互连技术应运而生。Si_3N_4常被用作大马士革工艺中的电介质阻挡层,在其成型过程中也被用作刻蚀停止层,同时也是其下方铜导线的覆盖层,器件的稳定性受其影响较大,而Si_3N_4是一种高介电常数(k=7~8)介质,会增加互连系统的有效介电常数,影响互连延迟的降低。于是新型三元材料SiCN(k