氧化锌由于其优异的光电性能能以及良好的物理化学性能在半导体、食品、医疗等行业被广泛应用,其薄膜也可用作成像系统的闪烁屏,闪烁屏质量关乎成像系统的好坏,因此具有重要的研究意义。本文利用溶胶-凝胶法和水浴法,通过控制变量法探究各种影响薄膜制备的因素,最后制备了质量上乘的氧化锌薄膜,并对其在辐射环境下结构和性能的变化以及其作为X射线成像系统中闪烁屏的性能做了探究。首先,通过一系列实验探究了溶胶-凝胶法和水浴法制备Zn O薄膜时各种因素对样品质量的影响。探究后确定了具体的参数并制成了具有较高质量的氧化锌薄膜。然后,将制备的两种氧化锌薄膜作为X射线成像的闪烁屏进行了成像实验,探究了两种样品成像的效果,并对其成像的效果及两种方法制备出的样品差异进行了分析,结果显示有棒状结构的薄膜展示出较好的成像分辨率。最后,将制备的薄膜样品置于不同伽马射线剂量下进行辐照,辐照后通过对样品进行一系列性能及表征测试,探究了辐照前后氧化锌薄膜内部结构及光学性能的变化,结果显示,随辐照剂量的增加,材料的平均微晶尺寸减小,晶格遭到破坏,薄膜的缺陷也随之增加。本实验创新点在于将低温下通过水热法生长出的取向良好的垂直Zn O纳米线用作X射线转换的闪烁屏幕。利用其特有的柱状结构发挥光导的作用,抑制闪烁光的横向扩散,以此来提高成像的分辨率。