采用快速凝固的方法制备出了Al-Si合金的薄带钎料。利用x射线衍射(XRD),扫描电子显微镜(SEM),差热分析(DTA)等实验手段测量了薄带的熔点,成份等物性。使用EDS对Si元素的扩散现象进行了观察,初步研究和讨论了普通与快冷Al-Si钎料中Si的扩散机理和扩散能力的区别。研究结果表明:普通钎料和快冷钎料中Si元素在母材基体中的扩散过程基本相同。快冷钎料中Si元素在母材中的扩散速度和深度都远高于普通铸态钎料。快冷钎料晶粒细小,晶界上Si元素多,有利于形成“液相通道”是快冷钎料试样中Si元素扩散速度快的主要原因。 作者进一步对Si元素在液相和固相扩散区域的不同扩散行为进行了研究与探索。研究结果表明:钎料熔化初期Si元素在浓度梯度的驱使下向基体扩散,低熔点组分流向基体而高熔点组分逐渐堆积形成“钎料残余层”。在基体深度方向上,Si元素主要沿基体晶界扩散,且随扩散深度的增加呈明显的线性分布状态。