材料中的裂纹扩展会导致结构部件断裂,造成灾害性事故。然而初始微小裂纹不易被发现,现有探测微裂纹的方法常受到外界干扰、检测精度以及适用范围的限制。量子点具有荧光光谱窄、激发光谱宽、荧光强度高、稳定性好等优势,将量子点应用于微裂纹的监测有极大的优越性。本文探索了量子点检测陶瓷涂层和陶瓷疲劳裂纹的方法,用共聚焦显微镜和荧光光谱仪考察了陶瓷厚度变化与量子点荧光强度的变化关系。采用Ansys软件模拟了氧化铝陶瓷的应力分布,考察了荧光强度与应力分布之间的关系,获得了陶瓷厚度变化时荧光强度变化和应力值变化之间的关系。本文的主要研究内容和研究结论包括以下三个方面：(1)建立了量子点检测陶瓷微裂纹的测试系统,在试样表面制造疲劳裂纹,紫外灯照射下裂纹膜上产生明显亮线。光学显微镜观测陶瓷涂层和陶瓷微裂纹实际宽度与利用荧光检测出来的膜微裂纹宽度值十分接近,误差仅为2%,实现了通过量子点微裂纹的实时监测。(2)考察不同温度下量子点膜上同一点荧光强度变化,发现荧光强度随温度的升高有明显降低。考察不同时间下膜上同一点荧光强度变化,发现强度基本不变,将试样升温至50℃C仍能保持较好的时间稳定性。(3)考察荧光强度与应力之间的关系,发现两者满足y应力=0.00761x荧光-187.05的线性关系。改变陶瓷的厚度考察荧光强度变化与应力变化之间的关系,发现荧光强度和应力都随陶瓷厚度的减小而增大。