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集成电路(Integrated Circuit，简称IC)测试是保证数字系统安全可靠工作的一个重要且必不可少的环节。随着电路规模的扩大和设计层次的提高，需要在电路设计的高层直接对电路进行测试产生，这一课题受到工业界和研究领域的广泛关注。同时，随着数字系统工作时钟频率的迅速提高，以确保数字电路时间特性的正确性为目标的时延测试也成为测试领域的一个热点问题。作者在基于寄存器传输级(Register Transfer Level，简称RTL)行为模型的测试产生和门级时延测试方法这两个领域均作了深入研究。本文首先从IC逻辑测试的测试产生和IC时延测试方法这两个方面系统地综述了测试产生和时延测试领域迄今为止的主要研究成果。作为本文研究的重点之一，本文在RTL行为描述的测试产生方面，提出了新的RTL行为模型的描述方法以及基于这种描述的测试产生技术。在IC时延测试方面，本文在全面地总结各种通路时延测试方法的基础上，重点介绍了作者提出的可变双观测点的时延测试方法，并基于该方法提出了新的时延故障诊断方法。上述技术应用于作者实现的两个测试系统中：一个是基于聚类的测试产生系统，它实现了针对RTL行为模型的自动测试产生；一个是可变双观测点的时延测试系统，它提供了从时延测试到故障诊断等一系列测试工具。 本文创造性的工作主要有3个方面： 1．提出了一种新的行为模型的描述方法：行为阶段聚类描述。行为阶段聚类描述将电路所实现的有限状态机的状态映射到若干行为阶段中，对行为阶段的聚类能够清晰地反映电路的工作模式。行为阶段聚类描述有望应用于对电路的功能分析、设计验证和测试中。 2．在行为阶段聚类描述基础上建立了一种新的行为级故障模型：行为阶段转换故障模型，并提出了一种针对RTL行为模型的基于聚类的测试产生算法。该算法与对行为阶段聚类的技术一起集成到一个基于行为阶段聚类的自动测试产生系统ATCLUB中。实验结果表明，ATCLUB效率很高，能够以较短的测试序列达到对电路门级固定型故障的较高的覆盖率。 3．在本人提出的可变双观测点的时延测试方法的基础上提出了一