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随着集成电路的发展,传统的SiO2材料已不能满足现在栅介质层薄膜的要求。稀土氧化物因具有高介电常数(k (La2O3)=27, k (Gd2O3)=16)和优异的热力学性能在高K材料领域受到广泛关注。原子层沉积(ALD)技术是制备的高质量高K栅介质的方法之一,但是寻找性能优良的适合于ALD技术的的前驱体是关键。本文的主要研究内容是设计、合成一系列的酰腙类稀土La/Gd的配合物(前驱体)。对合成的配合物用元素分析、1H,13C{H} NMR以及X-射线单晶衍射等表征,利用热重(TG)对配合物的分解机理进行了初步分析。研究工作主要包括以下几个部分:一、酰腙基稀土La/Gd配合物的合成与表征利用配体酰腙的锂盐与无水的LnCl3(Ln=La, Gd)按照3:1的摩尔比进行交换反应得到均配型的稀土配合物: La[Ph(OCNNC)MePh]3(2a)、 La[Ph(OCNNC)MeEt]3(2b)、La[Ph(OCNNC)C5H10]3(2c)、 Gd[Ph(OCNNC)MePh]3(2d)、 Gd[Ph(OCNNC)MeEt]3(2e)、Gd[Ph(OCNNC)C5H10]3(2f)。对配合物2a-2c进行了元素分析、1H、13C{H} NMR的表征。对配合物2b进行了热重(TG)表征,分析2b的热分解机理。利用酰腙与Ln[N(SiMe3)2](Ln=La, Gd)发生的交换反应合成了一系列新的稀土配合物:(PhCONNCMeC6H4)2La2[N(SiMe3)2]2(THF)2(3a)、 La(PhCONNCCH3Ph)3(3b)、(PhCONNCC5H9)2La2[N(SiMe)2]2(THF)2(3c)、 La(PhCONNCC5H10)3(3d)、(PhCONNCMeCHMe)2La2[N(SiMe)2]2(THF)2(3e)、 La(PhCONNCMeCHMe)3(3f)、(PhCONNCMeC6H4)2Gd2[N(SiMe)2]2(3g)、 Gd(PhCONNCMePh)3(3h)、(PhCONNCC5H9)2Gd2[N(SiMe3)2]2(THF)2(3i)、 Gd(PhCONNCC5H10)3(3j)、(PhCONNCMeCHMe)2Gd2[N(SiMe)2]2(THF)2(3k)、Gd(PhCONNCMeCHMe)3(3l)。对所合成的配合物用元素分析、核磁共振等手段进行表征。另外对配合物3c、3e、3k进行行X-射线单晶衍射测试。二、四(甲乙胺基)铪(锆)的制备和纯化四(甲乙胺基)铪/锆是性能优良的用于ALD技术来制备ZrO2和HfO2高K材料前驱体。但制备方法和纯化技术是关键,本章分别利用ZrCl4和HfCl4为原料与甲乙胺的锂盐反应制备四(甲乙胺基)铪/锆前驱体,对反应条件进行了探索,对纯化方法进行了研究,最终得到的产物的纯度达到4N。