随着SRAM型FPGA在空间电子领域应用日趋频繁,其设计工艺技术也不断提高,而随集成度的增加使其对空间中存在的高能粒子辐射越来越敏感。这些粒子辐射引发的单粒子效应会使电路系统故障,不仅存在安全隐患还会造成极大的经济损失,所以对太空环境中的FPGA器件的单粒子防护效果进行可靠性评估是非常必要的。为了实现模拟空间环境下用户电路防护水平的检测,不同的故障注入技术和可靠性评估方法已经变成了SRAM型FPGA领域研究的前沿热点问题。本课题的研究重点在于如何实现一套快速高效的故障注入系统平台,并用完备的理论体系来对用户电路可靠性进行评估。为解决上述问题,本文围绕SRAM型FPGA故障注入方法和可靠性评估指标进行理论分析,在对故障注入基本原理和故障注入模型进行研究的基础上,将上位机软件和硬件电路结合,实现了寻址翻转故障注入、遍历翻转故障注入和随机积累翻转故障注入等三种不同的故障注入方法,并完成了故障注入平台的总体系统设计和配套上位机软件平台开发。此外,对于本课题实现的SRAM型FPGA的故障注入系统平台,本课题设计了几个不同的实验对其实现的核心功能进行验证,并结合提出的可靠性指标分析了验证电路,证明了课题提出基于平台故障注入方法的有效性。