本文从半导体激光器电流泄漏的角度对器件可靠性展开了深入而细致的仿真与实验研究。分析了影响半导体激光器可靠性的因素并提出了提高器件可靠性的一些措施。重点结合电导数测试技术,利用合理的等效电路模型以及推导出的相关的电导数参数的模型参数表达式,借助电路仿真设计软件OrCAD/PSpice,通过改变器件等效电路模型中的各个参数,来对器件中各种不同程度的电流泄漏进行仿真。利用仿真获得的数据,得出了表征器件中电流泄漏的模型参数对电导数参数的影响规律,进而总结出了器件中各种不同程度的电流泄漏对电导数参数的影响规律,并结合实验进行了对比分析。本文从半导体激光器结构中的各种电流泄漏对电导数参数的影响的角度分析了器件可靠性与电导数参数的关系。研究发现,器件的电流泄漏同电导数参数有着紧密的联系。所总结的规律对于利用电导数测试技术进行器件的可靠性筛选具有十分重要的指导意义。