随着集成电路制造工艺的不断发展,单芯片的集成度越来越高,通过集成各种IP核,系统芯片SoC的功能更加强大,但同时也带来了测试数据量的快速增加。由于传统的自动测试设备的存储量、工作频率以及带宽有限,这使得SoC测试面临时间过长、测试成本过高等问题。面对海量的测试数据,测试数据压缩提供了一种可行有效的解决方案,使得SoC测试数据量过大和测试时间过长等问题得到有效缓解。本论文正是围绕SoC测试数据的压缩问题展开了研究。本文先介绍了SoC测试的相关概念和一些典型的测试数据压缩技术,并作了相关分析,然后提出了一种基于LFSR状态相关的测试数据编码压缩方法。针对当前LFSR状态和种子的相关性,根据控制位只对该种子载入过程中需要改变的位进行控制,使得在载入种子生成测试向量时,并不需要全部载入种子的每位数值,使得控制简单且种子的施加时间更少,从而实现测试数据压缩。实验结果证明,该方法能够有效地减少种子的存储空间和施加时间。针对测试集中存在大量的连续数据块,本文提出了一种基于幂次数划分的测试数据压缩方法。首先将测试向量集划分成若干数据块,使每块的长度正好是2的幂的倍数,对其判断,确定其是否为连续块,若是则只要用一定的标记位就可表示此连续块的长度,同时将连续位长度不足的序列划为非连续块,并且不对其进行编码,有效地避免了用长码字替换短游程序列的情况。该方法编码规则减少了使用前、后缀形式编码的复杂性,且解压体系结构是一个简单的有限状态机,所以其编码/解码过程、通讯控制协议简单。实验结果显示,这种编码能够有效地压缩测试数据。