为了满足市场激烈的竞争，使产品尽快进入市场，以及为了满足顾客的高期望，产品必须做得更稳健，更可靠，因此在短时间内产品几乎观察不到失效。在这种情况下，利用高应力水平下的退化数据来对产品的可靠性进行评估就变得很有必要。这种评估可通过加速退化测试来完成。这些试验包括取代测试产品寿命而只测试产品性能随时间退化的过应力测试。随着工程技术和科学知识的发展，许多现代产品比过去有更长的寿命和更高的可靠性。这样，寿命测量和退化测量要比过去花费更多的时间和金钱。因此，在正常贮存条件下观测失效时间就变得非常困难。在某些情况下甚至变得不可行。在这项研究中，从实际工程背景和问题出发，基于具有贮存初始失效的系统贮存可靠性模型，R（t）=P（T≥t|T>0）P（T>0）=R₀R_s（t），t≥0，应用加速退化试验，加快参数漂移过程，推导系统失效规律，建立系统贮存可靠性理论模型，对系统的贮存可靠性及剩余寿命进行预测。本论文在该领域的研究中，首次将伊藤过程引入到研究参数漂移过程，并将漂移方程X（t）=X₀+v（t-t₀）+σD（t-t₀），t≥t₀．改进到积分形式（?），t≥0．使得参数v，σ可以为时间t的变量。再结合伊藤过程固有的性质来研究参数漂移的规律，取得了一定的成果。比如我们对漂移过程中的马尔科夫性，齐次性都给出了证明。对参数v，σ的实际物理意义给出了解释和证明。最后，我们以一个模拟的退化模型来验证我们的结果。