一般来说测量和调整发射功率影响最大的是线路衰减,大部分测试工程师的工作就是检测线路衰减的准确数据。通常线路衰减指的是：在测试单元射频输出到自动化测试设备之间的射频电缆、射频开关和射频连接器的所有损耗。因此,射频衰减在自动化测试设备到测试单元之间的功率测量结果为：测试单元射频输出功率(dBm)=自动化测试设备功率(dBm)+线路衰减(dB)然而,测量测试单元的射频输出功率是不能像公式写的那样很精准的去测量。在现实中,可能会出现许多不正确或不相干的信号源的干扰从而引起在测量时发生偏差。测量的偏差和如何减少它们的影响我将会在我的论文中描述。在此我想说的在测量中的一个不确定因素就是自动化测试设备它自己,依据实验的结果它一般会产生+／-0.5 dB的偏差。为了减小测试单元的射频输出功率的测量偏差,Cal-Cart在测量时包含了这个自动化测试设备的设备损耗(参考一个电源表)作为一部分线路衰减的参考值。因此这个Cal-Cart的线路衰耗定义就是：Cal-Cart的线路衰耗(或指线路衰耗)是在测试单元和自动化测试设备之间的设备的正负绝对值的误差。(可以在其中串联的一个电源表来测量)虽然把自动化测试设备的误差算到了线路衰减中是很重要的,但关键的Cal-cart的准确性是靠电源分离器。这个电源分离器会连接在个已较准过的电源,然后再参考之前所提到的电源表,来测量整个线路的衰减。在某些情况下它是被要求绝对精准的测量出来,例如在实验室中。但是在我们的生产线和普通环境下,环境因素就不可能那么精确的测量出来。的确,在不确定的设备中测试数据只要其绝对数据误差小于+／-0.2 dB并且这个趋势一直保持我们就是可接受的。虽然很难去达成如此高的精度,但它可以依照如下方式来做：●Cal-Cart测量自动化测试设备的线路衰减,并依照GageR&R的固定时间表来描绘射频衰减的状况。我们通过研究它就能找到衰减的具体情况了。●保持测试车测试时的室温稳定。用于测量的仪器是对温度非常敏感的。(测试设备有：VSA, Momentum, CMU200,等等测试设备)·确保在测试台中测试的手机射频接口有至少20dB的衰减反馈。请注意,射频耦合器和一些触针等组成的射频接口是不能校准的,因为他们不是实际用于测试的测试台接口。我们可以用FinalUI的射频接口和信号功率控制器(CMU2000,8960)等设置一个相关的衰减补偿。因此,Flali的线路衰耗测量就显得尤为重要了。只要能测量好它就能保证手机后面的射频测试。接下来,我将介绍一下相关测试所用的测试台。一般在生产中测试台分三大类,接下来我将逐一介绍：Flali (Flash and alignment)测试台用于刷新开机程序,精细的检测射频回路并且调整一些基带测试值。生产时,会有操作员或机械手来完成主板的拿取,在测试台内部会有两个卡具分为上卡具和下卡具分别咬合来固定主板,并且连接好测试点。FU(Final and UI)测试台用于测试组装好的手机。它将检查手机的用户界面,例如键盘,显示屏,摄像头,和音频系统(MIC&EAR)。射频的测试将会用耦合或检测点的方式来检查,射频方面仅对呼叫做测试,所有关于信号及波形的调整应该在FLALI测试台做。LABEL测试台用于选择不同的语言包(程序其实已经在FLALI或Panel Flash灌好了)IMEI程序和标签打印。LABEL可以做许多种测试,但一般绝大部分的测试应该已经在之前的测试阶段就做好了。由于日新月异的手机发展,导致需要测试的项目越来越多。怎么能让上面介绍的设备在最短的时间内完成手机的全部测试就是我们需要研究的课题。应该说,以前的技术已经不能很好的完成短时间测试,我们必须要找到一个新的方法。非信令测试就是在这种情况下应运而生的,它取代了以往每测试一项信号,需要建立连接,传输指令到测试台的老方法,取而代之的是通过信令集成一束同一发给测试台,同个软件及测试台公共完成整体测试。这样更简单、快捷、高效地完成了整部手机的测试,从而大大节省了测试的时间。为手机的大规模生产,在技术方面上起到了支持的作用。