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目的本文通过观察比较两种抛光系统对不同复合树脂修复体的树脂-牙体组织粘接界面的渗漏,评价两种抛光系统对树脂修复体边缘渗漏的影响,为临床应用提供参考依据。方法选择60颗健康的年轻人恒前磨牙。在颊舌(腭)侧面釉牙骨质冠方1.0mm处预备4mmx4mmx2mm大小的V类洞形,随机均分为P0、P1、P2、S0、S1及S2等六组,每组10颗牙齿。P0、P1和P2组均用复合树脂P60充填；S0、S1和S2组均用Spectrum TPH通用复合树脂充填,贮存于37℃蒸馏水中24小时,取出后统一用金刚砂车针修整外形,其中P0和S0组为空白对照组,不进行抛光;P1及S1组用Sof-Lex discs进行抛光；P2及S2组用Composite polishing kit CA0310进行抛光。测量所有试件表面粗糙度Ra值,并进行统计分析。上述处理完毕后在洞周1mm外牙体涂2层指甲油,自凝塑胶封闭根尖孔,将试件浸泡于氨化硝酸银溶液中24h,取出后蒸馏水充分冲洗10sec,再浸泡于显影液中8h(同时荧光灯照射),取出试件蒸馏水冲洗20s并吹干。自颊舌方向于试验区域连续纵向切取2-3片,宽约2mm,油磨石打磨后17% EDTA溶液冲洗试件,再予以超声冲洗,置于37℃蒸馏水中,备用。在40倍体视显微镜下观察试件粘接界面的银染色情况,参照Sidhu[9]的评价标准予以记分并行统计学分析。对试件进行常规真空干燥、喷金,在扫描电镜下观察剖面修复体粘接界面的渗漏情况。结果1同种树脂(SpectrumTPH或P60)充填的各组中,与未抛光组比较,Sof-Lex discs及Composite polishing kit CA0310抛光后粗糙度均明显降低,两种抛光系统间粗糙度无明显差别。同样的抛光处理条件下,Spectrum TPH充填组修复体表面粗糙度明显小于P60充填组,差异有统计学意义。2同种树脂在不同抛光条件下牙合壁及龈壁微渗漏值均无明显差异；相同抛光条件下不同树脂组之间牙合壁及龈壁微渗漏值差异无统计学意义；同种树脂同种抛光处理条件下牙合与龈壁微渗漏值无明显差异。(3)所有实验组粘接界面均可见纳米渗漏,形态无明显差异。结论1.Sof-Lex discs及Composite polishing kit CA0310对Spectrum TPH及P60复合树脂均为有效的抛光工具,两种抛光系统对其抛光效果无明显差异。2.与P60相比,Spectrum TPH的可抛光性更佳,能获得更光滑的表面。3.采用Sof-Lex discs及Composite polishing kit CA0310抛光SpectrumTPH和P60复合树脂修复体,对其边缘渗漏无明显影响。