模拟IC（Integrated Circuit，IC）自动测试仪是集成电路测试的常用仪器。它是集成电路自动测试仪系统中必不可少的工具。而任意波形发生器（ArbitraryWaveform Generator，AWG）作为其重要组成部分，对整个测试仪系统的参数性能指标有着直接的影响。目前国内外供应任意波形发生器的厂商总体来说比较多。考虑到项目本身定位是低成本模拟IC自动测试仪，如果在任意波形发生器模块直接选用其它公司的产品，虽然会降低整个项目开发周期，但也会极大的提高项目的成本。同时，考虑到整个测试仪系统采用的是一种开放式的架构，因此对各个功能板卡的接口有严格的要求，其它公司的产品不便于集成。基于以上两点，自己研发任意波形发生器模块就显得尤为重要。另外，AWG模块在具体实现时，采用了ARB Mode和DDS Mode两种模式，即任意波形产生模式和直接数字合成（Direct Digital Synthesis, DDS）模式。本文第一章对集成电路自动化测试相关产业以及面向模拟IC测试的任意波形发生器的发展现状做了相关介绍。第二章为模拟IC测试仪的软硬件系统架构设计。第三章为任意波形发生器的硬件系统设计，具体主要包括FPGA、SDRAM、波形产生DAC、滤波器电路、差分转单端电路、幅度精调电路、幅度粗调电路、幅度偏移电路、输出阻抗选择电路、同步输出电路、触发源接口电路、信号调理电路、SRAM存储器板、DDS板、继电器驱动电路、电源部分；其中，信号调理电路又包括偏置、衰减放大、过压保护、ADC几个电路模块。第四章为任意波形发生器的软件系统设计，具体主要包括上位机软件和波形产生功能软件的设计与实现。第五章最后对系统进行了测试与验证，具体主要包括系统各模块的调试结果和调试中所遇到的问题及相应的解决办法。