随着集成电路复杂度的逐年增加，芯片验证工作也变得越来越繁重。更令人担忧的是，芯片的设计能力和验证能力之间的差距越来越大，验证环节已经成为了制约集成电路发展的重要因素。目前，芯片设计流程中的验证部分需要投入的资源已占整个设计资源的60％-80％，正是在这个背景下，业界提出了验证平台的概念，企图通过验证的自动化来提高验证效率。经过十几年的发展，目前已经形成了一套完善的验证方法学，称之为UVM验证方法学。　　本文首先介绍了一款可重构专用处理器，文中所验证的FIR算法就是在该处理器上实现的。然后介绍了验证的基本理论，指出了验证与测试的区别，详细讲述了功能验证的相关概念，阐述了验证技术发展过程中的三个重要阶段，并着重强调了覆盖率在验证过程中的重要性。同时，文章也介绍了验证语言和验证平台的发展历史，阐明了验证语言和验证平台相互促进，共同发展的关系。紧接着介绍了UVM验证平台的整体架构，并引入树形图直观地显示了UVM中各个组件的关系。另外，文章也详细介绍了UVM中用到的各种机制，这些机制各自负责完成特定的任务，UVM正是在这些机制的共同作用下，成长为一个业界公认的，完善而通用的验证平台。之后介绍了两种FIR算法的基本原理，并且详细说明了两种FIR算法在可重构专用处理器上的具体实现。与此同时，文章根据算法的具体实现过程，提炼出了一些重要的测试点，并以此作为后续验证工作的指导方案。最后从宏观角度介绍了验证平台的整体架构，并且详细介绍了验证平台中每个模块的具体作用以及它们之间的相互关系，同时配以部分代码片段阐述了该验证平台的执行流程。作为例子，文章以普通FIR算法的(16，16)组合对整个验证过程进行了详细说明，给出了VCS的仿真结果与覆盖率情况，从而证明了普通FIR算法和多普勒FIR算法的正确性。