LTE/LTE-Advanced技术的不断演进对底层硬件平台的要求日趋增高,提高数字处理芯片的速度是改善性能的一项解决方案,但是处理器内核性能与系统总线速率的差距正在拉大,系统不同组件的通信速率正在逐渐成为瓶颈。所以需要新的互连技术来提升系统内部各组件通信性能。本文通过对Serial Rapid I/O (SRIO)协议和嵌入式开发研究与分析,设计了通信仪表平台底层互联拓扑结构。开展了方案设计、代码编写、通过实际测试进行验证等工作。本论文完成了 4G/4.5G通用终端测试平台的拓扑研究与设计的课题目标。首先,论文概述了本文选题技术背景和重要意义,阐述了 LTE-A终端测试仪的功能、硬件架构、软件架构和核心协议软件设计的需要与原则。其次,论文通过比对几种通用的高速串口协议,阐述选型SRIO的原因。然后对SRIO本身协议物理层、传输层、逻辑层进行研究,了解各层协议的实现,同时对选型的Switch芯片CPS1616、CPS1848进行研究。基于以上基础理论和工程实践积累,为后面面向4G/4.5G通用测试仪表拓扑网络设计奠定基础。再次,完成对通用仪表平台的底层互联网络的设计,并进行分级验证以确保网络内链路满足设计需求。并结合多小区载波聚合测试场景进行验证。最后,文章对全文进行了总结,并展望了终端测试仪与嵌入式互连技术的发展方向。