折射率是表征光透明物质光学性质的基本物理量之一。各种光透明物质中，诸如密度、浓度、温度、应力等物理量的变化，均会引起折射率的变化。根据折射率的空间分布和时间变化，可以分析乃至确定其它多种“场量”。因此，对折射率的测量是具有基本意义的测量，并且有广泛的应用价值。本文采用的微分干涉层析的方法来测量材料的折射率，此方法以开发新型相干层析三维测量技术及光测力学新方法为目的，对高相干层析方法进行了一系列实验研究。本文首先介绍了国内外在测量折射率方面和相干层析技术的研究现状，在这些测量方法中有的能够测量介质的厚度；有的能够测量介质的折射率有的既能测量厚度又能测量折射率，但只能测量单层介质。为此我们提出了一种新颖的基于共焦显微镜技术，和高相干干涉测量的非接触式测量方法。用这种方法我们不仅能够测量出不均匀折射率材料的折射率，而且能够测量出材料内部每个测量点的折射率，此外还能对这个测量点的具体位置进行定位。期间，设计了相干层析测量系统的四个实验光路，其中有新的光路滤波系统—旁轴物光滤波系统，此滤波系统能够滤除被测介质表面反射光及内部散射光构成的多种噪声。并以此为基础寻找各种设备，包括自己购买，自己加工制作，或采用实验室现成的设备，设计和搭建了整个测量系统，测量和分析了多个样本。最后对今后进一步需要做的工作，提出了一些意见和建议。