论文部分内容阅读
ZnO薄膜是一种直接宽带隙半导体材料,具有较高的激子束缚能(60eV),即使在室温条件下激子也不会分解,具有多种用途,因此近年来对ZnO基半导体材料的研究越来越为人们所重视,为了研究沉积气压对磁控溅射制备Zno薄膜的结构与性能的影响,本文采用CS-400射频磁控溅射法在不同的沉积气压(0.5Pa-5Pa)下分别在Si(111)及石英基底上成功的制备了ZnO薄膜和25%N_2气氛下Zn_(0.975)Cu_(0.025)O薄膜,采用X射线衍射(XRD)、扫描电镜(SEM)、紫外-可见分光光度计等分析测