随着卫星定位系统应用领域不断拓展,由陶瓷基片构成的卫星天线需求显著增加,而批量生产过程中由于工艺条件的差异性会导致基片参数的不一致,当基片参数偏离太大时会带来天线性能的下降,影响生产效率。研究适合于微波基片参数的在线测量方法并根据测量结果实现基片的自动分拣系统,对于提高微波基片生产效率具有十分重要的现实意义。本文围绕微波基片测试理论以及微波基片自动测试与分拣系统的搭建两个方面开展研究,具体工作如下:第一、在微波基片测试理论方面,首先从微带谐振环的工作原理出发,设计了一款谐振频率在1575MHz处的折叠微带谐振环;接着分别提出了有覆盖及未覆盖的微带谐振环的等效电路模型,并通过与HFSS仿真模型对比提取得到了相应的电路参数;然后提出了分别用S21相位和特征相位ΔΦ提取覆盖基片复介电常数的新方法;最后通过仿真拟合与实际测量相结合的方法,拟合得出了复介电常数与S21相位和特征相位ΔΦ的关系公式,为后续自动测试与分拣系统的实现奠定了理论基础。第二、微波基片自动测试与分拣系统包括基片参数自动测试与评判和基片自动分拣两部分。首先用机械臂从传送带上抓取待检基片并自动旋转后放置在测试平台上,然后自动读取矢量网络分析仪上相位信息并计算基片的复介电常数,接着自动评判软件判断基片参数是否合格,最后机械臂将测试完成的基片放置至相应区域(合格区或不合格区),从而实现微波基片参数的自动测试与分拣。本文完成了微波基片参数自动测试和分拣软件开发,搭建了微波基片参数自动测试和分拣系统的验证平台。研究结果表明,本文所提出的理论分析是有效的,在此基础上实现的微波基片参数自动测试及分拣,为微波基材在线测量与自动分拣的工程应用提供了参考。