激光技术是一种高科技技术,在军事、国防、工业、医疗等行业有着举足轻重的作用。因此对激光性能的测量分析显得日益重要,对测量设备也提出了越来越高的要求。光电探测器点阵法是一种新颖的远场激光光斑测量方法。本文介绍了一个并行采集的光电探测器点阵系统的设计和测试情况。激光照射在点阵靶上并形成光斑,探测器阵列将光斑各个位置的能量转换为225路电信号,经过225路AD并行采集,将225路采集数据均分成9组,每组数据由一套由FPGA和DSP组成的信号处理电路处理,并分别将数据传送给上位机。在上位机中对能量数据进行进一步处理,拟合出光斑的能量分布图像,计算出光斑的参数,检测激光器的性能。由于光电探测器点阵法直接测量激光光斑,信噪比高,同时可以响应高速窄脉冲,并且能够准确、细致的测量出光斑每个位置的能量,所以由其分析得出的激光光斑参数和性能也就更加准确。文中详细的介绍了各个模块的硬件组成及信号处理过程,并在文章的末尾给出了各个模块及整个系统的测试结果,能够达到指标。