高性能图像压缩芯片的验证和测试

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随着我国航天事业的不断蓬勃发展,新型航天器所获得的图像数据量越来越大,这给星上数据存储带来了困难,也给传输信道造成繁重负担。图像压缩系统作为星载数传系统的重要组成部分,能有效的对数据进行压缩。采用高性能图像压缩芯片有利于系统的实现,也有利于提高系统的稳定性,同时使得系统具有实时压缩图像数据的能力。本课题组承担的某型号高速图像压缩芯片以JPEG2000为核心算法,支持无损压缩和有损压缩,最高工作频率为210MHz,最高处理速率大于105MSamples/s。该芯片采用了130nm工艺生产,规模4千多万门。该图像压缩芯片具有高处理速率、低功耗、抗辐照等优点,为航天航空发展需要的专用元器件,符合我国航天航空器件高可靠高性能的要求。本论文主要研究了该芯片的验证测试工作,包括功能验证、静态时序分析、时序仿真和单粒子效应模拟实验。功能验证主要针对芯片压缩核、外挂存储器、配置接口、相机接口、码流输出接口、芯片工作频率以及异步时序等展开。不同的验证选取不同的针对性向量进行测试。对于接口,以分析其接口时序为主,保证其符合芯片接口规范。静态时序分析通过PrimeTime抽取整个电路的所有同步时序路径,根据路径的门延时和线延时计算每条路径的总延时,最终得到了完整的静态时序报告。根据静态时序报告,分析和优化存在时序违例的关键路径。时序仿真使用网表与时序约束文件,通过时序仿真验证平台,完成了PLL工作时序、相机接口时序、码流输出接口时序、SDRAM接口时序、异步时序等验证工作。根据单粒子辐照实验要求,搭建了以FPGA为核心的自动化测试平台,实现了自动发送图像、自动比对、实时显示以及实时存储等功能。实验过程中使用多种粒子分别对两块芯片进行了测试,实验结果显示,一期芯片存在单粒子锁定敏感的问题,二期芯片由于采用了新的工艺,解决了单粒子锁定的问题。
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