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与SiC相比,GaN具有更宽的带隙、更短的载流子寿命,更高的饱和电子漂移速度等特点,是目前发展高压、高频、高功率光电导开关器件的优选材料。目前暗态高阻(半绝缘)的GaN晶圆是通过掺铁补偿的氢化物气相外延生长工艺得到的。用它制作成的传统纵向型结构光电导开关,因为暗态漏电流问题,实际耐压能力远远小于本征GaN的理论值。因此本文研究一种集成了金属-绝缘层-半导体场效应晶体管和稳压二极管工作原理的光电导开关新型结构——绝缘栅型光电导开关,具体设计了一个耐压20kV量级u形沟槽绝缘栅型半绝缘GaN:Fe光电导