集成电路的故障诊断是集成电路生产中的一个重要问题。随着集成电路技术的飞速发展，单芯片上的集成度越来越高，其可控性和可观性不断降低，测试生成难度不断增大，测试成本呈指数增长。 传统的电压测试方法已日趋完善并得到了广泛的应用。电压测试方法可以检测出大量的物理缺陷，简单而且速度较快，但由于所使用的故障模型存在局限性，故只适用于验证电路的功能。作为电压测试的补充，电流(I<,DDQ>和I<,DDT>)测试方法应运而生。I<,DDT>测试能检测出电压测试和I<,DDQ>测试所不能检测出的故障，正逐渐受到研究领域和工业界的普遍关注。 本文从CMOS电路电流分析基础理论出发，根据I<,DDT>的主要成份，首次提出了具有高精度的“crowbar”电流均值算法模型，极大的方便了I<,DOT>的定量计算。 基于PSPICE仿真平台，本文对组合逻辑电路和SRAM存储单元电路的弱故障I<,DDT>特性和故障检测技术开展了研究，探索了工程化的I<,DDT>故障检测技术。研究结果表明，I<,DDT>信号能够检测出弱电阻桥接和开路故障；而且I<,DDT>信号中还带有明显的故障位置信息，使得采用该方法进行故障定位成为可能。 并在国内首次开展了面向弱故障的、瞬态电流I<,DDT>测试结构的设计：进行了基于信号处理技术的非积分式测试结构，和基于平均值计算的积分式测试结构的设计，前者主要用于设计验证和失效分析阶段，故障诊断的精度高，但效率较低；后者主要用于批量测试，达到快速筛选的目的，效率高但故障诊断的精度低。同时提出了用于批量测试的I<,DDT>失效判据确定原则，为I<,DDT>测试技术走向工程化应用迈出了重要的一步。