随着科学技术尤其是微电子技术的发展，LSI，VLSI的电路密度不断增加，集成电路的测试难度越来越大，而数模混合电路的应用更使测试难度增大。数模混合电路的可测性分析及故障诊断一直是个难点，也是电子系统集成技术的重点研究方向之一，急需运用新的理论来解决此问题。本论文利用近年来发展的离散事件系统理论寻找一种统一的对数字和模拟电路测试都有效的故障诊断和可测性分析方法。 本文所做主要工作如下： 1、本文利用DES理论对数模混合电路进行数学建模，将电路状态离散化，从而将电路的数字部分和模拟部分统一起来进行故障诊断和可测性分析。 2、以CPLD为核心进行了一些典型数字电路的故障模拟仿真试验，建立被测电路的状态转移函数集，为进一步研究电路的可测试性和故障诊断提供了数据。 3、利用Borland C++ Builder语言编写了一套电路测试与诊断演示软件，能够实现对特定电路的可测性判断、故障覆盖率、快速测试和故障诊断等各项功能。 4、重点研究了利用图论中的基本回路概念根据状态转移函数集寻找电路的最小测试集，然后利用所得的最小测试集建立相应电路的快速测试数据库和故障诊断字典。