目前对模拟电路而言,研究者们大都关注于它在实际电路中的应用,而对模拟电路自身参数的研究却比较少。但是模拟电路的自身参数在实际应用中也很重要。现在对模拟电路参数的分析和测量主要有硬件和软件两种方法。硬件测量方法基本是采用如扫频仪等的电子设备对模拟电路进行测量。而软件测量方法主要是采用仿真软件或虚拟仪器对模拟电路进行测量。由于现有的电子仪器大都比较复杂和昂贵,应用并不方便;而现有的仿真软件首先是元件库不完整,还有就是虚拟元件和实际元件毕竟存在着误差,所以经过分析后本论文提出了基于ARM的模拟电路多参数测量方法。并且完成和做出了对应的测量系统。本系统使用STM32系列的ARM芯片作为控制部分,通过软、硬件结合的方法,实现了对模拟电路多参数的测量。本文主要工作概括如下:(1)介绍了模拟电路参数测量的发展现状、研究背景和研究意义。对现有的测量方法进行了总结,并将这些方法与本系统的方法做了相应的对比分析。(2)实现了ARM的整体设计,包括控制DDS信号源产生信号、对信号的采集、对数据的处理和计算、控制液晶显示测试结果等。介绍了所用的信号源AD9854的工作原理和它与ARM之间的连接以及控制流程。(3)硬件检测电路的设计与实现是本文的重点,检测电路主要包括阻抗/电压转换电路、频率特性测量电路、乘法器电路和滤波电路等部分。阻抗/电压转换电路和频率特性测量电路实现对模拟电路信号的提取,乘法器电路实现对信号的加工,滤波电路实现对信号的处理。(4)本系统对模拟电路测量的参数主要包括:幅频特性、相频特性和阻抗特性。经过对基于ARM的模拟电路多参数测量系统的测试和验证,结果表明该系统测量自动化程度较高、测试结果误差较小、抗干扰能力较强。