集成电路是在半导体板上集合多种电子元器件来达到某种特定功能的电路模块。它是电路设备中起主要作用的部分，担当着运算和存储的功能。集成电路的应用广泛，在军用和民用的各种电子设备，如数码家电，电信，计算机，通讯，测量，传感，控制等诸多领域无独有偶的扮演着主力军的角色，是众多行业的核心力量。基于微电子技术的迅猛发展，集成电路的规模越来越来大，其测试的时间越来越长、难度越来越大、成本越来越高。然而全球知名大公司都知道，产品的质量是企业的生命，是品牌的核心力量，电子公司当然也明白这点，所以集成电路的测试生成的方法是否先进，可靠，快速，在电子工业领域具有举足轻重的地位。设计者想要知道自己设计的产品的正确性，生产者想要知道自己制造的产品的合格率，用户想要知道自己所买的货物是否满足所需要的功能。于是，集成电路的测试生成算法的研究就非常有必要了。本文首先讲述了集成电路测试生成的背景以及意义、集成电路测试生成的基本概念、基本方法、基本原理、国内外研究发展现状；接着详细阐述了粒子群算法、蚁群算法、遗传算法三种算法在集成电路测试生成上的应用，即三种算法的基本思想、基本概念、参数公式、函数图形、实现步骤；最后用仿真得出三种算法测试生成的结果，包括故障覆盖率和响应时间，然后对仿真结果的数据作出结论。最后，本文通过系统仿真实验对这三种算法的测试生成方法进行验证，实验证明，这三种算法针对集成电路的测试生成都取得了较好的结果，但基于粒子群算法的时序电路自动测试生成，在小规模电路上可获得非常高的故障覆盖率，测试生成的速度也很快；蚁群算法在中大规模电路上取得很好的结果，而且测试生成的速度也可以。