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xgi<,2>O<,3>-(1-x)GeO<,2>体系(BGO)包含很多重要的光电功能材料，它们在生产生活中起着积极的作用，如：Bi<,4>Ge<,3>O<,12>、Bi<,12>GeO<,20>就是人们感兴趣兴趣的两种有用的材料。本文系统地测量了该体系在0.25≤x≤0.86成分范围内从各自熔点到1480K温度区间的熔体密度和表面张力：得到了熔体密度和表面张力随着温度和Bi<,2>O<,3>摩尔比率x的变化曲线；并利用实验所测量的结果，探讨了熔体物理性质(如密度ρ、表面张力γ、密度的温度系数dp/dT、体胀系数β等)随温度和成分的变化规律。
这项工作分别采用修正的阿基米德方法和最大拉力圆环法系统地测量了xBi<,2>O<,3>-(1-x)GeO<,2>体系的密度ρ和表面张力γ，实验结果表明：
(1)在0.25≤x≤0.86范围内，密度与温度的关系为单调的线性关系；在固定温度点，该体系熔体密度随Bi<,2>O<,3>的摩尔含量x的增加而增加。
(2)BGO体系熔体的体膨胀系数β和密度温度系数dp/dT随Bi<,2>O<,3>摩尔比率x的变化呈相反的变化趋势。
(3)当0.25≤x≤0.86时，在升降温过程中测量得到的每种熔体的表面张力与温度的变化呈现二次曲线关系。
(4)在固定温度点，当Bi<,2>O<,3>的摩尔含量x的增加时，BGO体系的表面张力先增加后减小，且在x=0.50时达到最大值；然而其表面张力系数dγ/dT却随着Bi<,2>O<,3>的摩尔含量x的增加而单调减小，在x=0.40时dγ/dT由正变负。
另外，为了揭示Bi<,2>O<,3>对熔体结构的影响，本文计算出了锗酸铋体系(BGO)、硼酸铋体系(BBO)的偏摩尔体积(P.M.V)和摩尔体积背离(ΔMv)，并将两体系作出了比较，指出：锗酸盐异常是否存在不能仅仅只分析Ge原子的短程序结构，还应该考虑到Ge原子的中程序结构变化；同时，对BGO体系出现反常的表面张力系数的原因解释作了深入探讨和研究，揭示出：单靠Gibbs吸附原理来解释具有网络结构的氧化物熔体表面张力温度系数的正负问题是远远不够的。