目前X射线无损检测方法包括单能量X射线检测方法和双能量X射线检测方法。单能量X射线检测方法是将单一能量的X射线穿透被测物体，利用不同物质对X射线衰减不同，实现对物体的无损检测。由于单能量X射线检测是将被检物体内部同一检测点的各物质的影像叠加在一起，所以对复杂物体的成像质量不高。双能量X射线检测方法是将高、低两种能量的X射线穿透被测物体，利用不同物质对不同能量X射线衰减系数不同，可以得到两幅具有不同光密度分布的透射物体图像，通过图像处理，能够得到高质量的被检物体图像。　　 本文设计了一种X射线无损检测系统中双能量X射线无损探测器。分析了无损检测技术及双能量X射线检测原理，提出了双能量X射线探测器的设计方案；采用Xilinx公司FPGA芯片Spartan-3E设计了探测器硬件电路，包括ADC硬件电路、FPGA控制电路、X射线探测卡、电源电路等部分；利用FPGA嵌入式系统开发工具EDK，搭建了基于32位软核处理器的嵌入式系统，设计了探测器的软件，实现了对X光信号的采集、处理和以太网数据传输的功能。并进行了实验和调试。　　 该探测器是利用双能量X射线对物体进行检测，检测物体的图像质量高，效果好，在工业产品、食品、货物的无损检测等方面，以及海关、机场、车站的安全检查等方面有着广泛的应用价值。