随着移动存储芯片行业向着高速率、低功耗、高密度的趋势发展,芯片内部高速数字电路中的电源噪声愈发严重,电源噪声对系统内部时钟和信号时序容限的影响极为突出。近年低功耗内存芯片的工作电压大幅降低,使I/O接口链路对电源噪声的敏感程度进一步提高,电源噪声引起的抖动已成为设计高速I/O接口的主要瓶颈之一。由此,本文针对LPDDR4内存接口链路中电源噪声引起的抖动,详细地阐述了接口链路的体系结构和主要特性,介绍了电源噪声的产生机制和对接口链路的影响,重点对接口链路的各具体单元建立了等效模型,并依据等效模型推导出了电源噪声引起抖动的传输函数。工作成果归纳如下:(1)针对LPDDR4 I/O接口的新型驱动器结构、端接逻辑和封装形式,分别分析其具体结构并进行等效建模。本文详细地介绍了LPDDR4接口链路的主要结构和物理特性,并对驱动器和端接逻辑建立了合理的等效模型。其后,针对从内存驱动器到处理器接收端之间的复杂互连路径,根据WLP封装的具体结构,细致地分析了I/O互连的各个基本单元,并对其进行电气集总建模。(2)详细介绍了电源噪声的成因以及对接口链路的影响。本文详细地阐述了电源分配网络的构成,细致地介绍了电源分配网络各组成部分及其特性,分析了电源噪声的产生机制及主要类型,其中同时开关噪声对供电电压较低的高速系统及其抖动有着显著影响,其后详细地介绍了电源噪声对信号输出的影响。(3)针对以往仿真抖动灵敏度耗时很长的问题,本文紧接着以建立的LPDDR4I/O接口模型为基础,提出了电源噪声引起抖动的数值计算方法。经分析发现,电源轨道噪声和地轨道噪声对接口输出信号具有完全不同的影响,本文详细地分析了电源轨道和地轨道噪声影响接口链路的具体原理,通过仿真眼图验证了该结论的正确性。其后,在仿真软件中对地轨道噪声引起的时序间隔错误序列和抖动传输函数在频域内做了验证分析,并通过专业仿真软件比较了抖动估计值的准确程度。