LED寿命长达数万小时,具有高效、节能、环保、高可靠性的优点,是当前国家正在提倡和推广的照明光源。然而,LED长寿命的优点却成为寿命评估的短板,需要耗费大量时间。加速寿命可大大缩短实验时间,同时也是探索LED失效机理,进一步提升LED性能的有效手段。传统的LED加速寿命方法往往采用离线测试方法,将样品连同夹具置于高温箱中,通过高温箱控制样品的整体环境温度,但是在老化过程期间需要中断老化,将样品冷却取出对其各个参数进行测试。为了更加便捷地连续性测试,一些科研机构也提出了在线测试方法,将光电探测器置于高温箱内,进行简单的光电在线测试,但系统易受高温影响。目前,加速寿命测试耗费大量的时间和人力,测量误差较大、数据量小,无法满足现阶段工业信息化发展的步伐。本文针对LED加速寿命实验,围绕现有系统所存在的不足,开发了多路LED加速寿命在线测试系统,具体工作内容包括:1、搭建多路LED加速寿命在线测试系统。系统包括夹具部分、加速寿命控制部分和在线综合测试部分。改造传统电流老化夹具,在老化夹具中加入加热片,通过加热片直接控制LED热沉温度,实现电流和温度加速寿命实验;使用3D打印机制作光纤固定夹具,将光纤-余弦收集器固定在样品正上方100mm处;引入脉冲结温测试方法,建立电压-结温系数,对结温进行在线监控;将光谱仪、光学复用器、数字电流源表、数据采集仪相结合,实现多通道的在线的光学、电学、色度学、热学的综合测试;采用IS公司的Spectro 320光谱仪和标准卤钨灯光源对光谱仪和光学复用器进行校正。2、基于Delphi可视化环境开发配套控制软件。软件通过GPIB、RS-232、USB等接口与各个仪器通信传输,对实验条件、采样条件等进行设置,读取实验结果。实验开始后,无需人工干预,即可自动化完成实验,实现实验数据在线连续测试。同时,为满足海量数据的存储、读取需求,采用HDF5数据存储结构保存大数据量、多类型的数据。3、通过大功率白光LED在线加速寿命实验验证系统功能。样品选择仿流明封装的大功率白光LED,使用InGaN蓝光芯片激发YAG黄色荧光粉,通过初筛和结温-电压敏感系数测试后,分为3组,温度应力分别为50℃、65℃、80℃,电流均为500mA,进行加速寿命实验。根据失效现象可将其分为单调衰减和非单调衰减,实验结果表明该样品质量和可靠性差。根据其参数变化可以看出,其主要失效来源于芯片非辐射复合增加、荧光粉黄化和透镜开裂。通过该实验可以看出,在线测试系统可以给出满意的加速寿命实验结果,相对离线测试结果而言,测试结果更加稳定,数据更加准确。