现代武器装备长期处于贮存状态,为保证其在服役过程中能稳定运行,要求武器装备中的部件或元器件均具有较高的贮存可靠性。金属化聚酯电容因具有绝缘阻抗高、介质损失小、耐压耐冲击等优良特性而得到广泛应用。目前对电容等元器件进行加速贮存退化试验及可靠性评估研究中,尚存在退化敏感参数不明确、加速退化失效机理一致性检验误差大、加速退化试验方案制定缺乏依据等问题。本文以某型滚控电子模块中金属化聚酯电容为对象,开展其贮存退化敏感参数确定、失效机理一致性判别及加速试验优化设计等研究。首先,进行金属化聚酯电容加速贮存敏感参数分析。建立滚控电子模块EDA仿真模型,并通过灵敏度分析,研究金属化聚酯电容特性参数变化对电子单机输出特性参数的影响程度。基于灵敏度分析结果,制定金属化聚酯电容摸底试验方案,测量电容特性参数退化数据,分析确定金属化聚酯电容加速贮存敏感参数。其次,提出金属化聚酯电容加速贮存退化失效机理一致性判别方法。基于摸底试验获得的电容贮存退化数据,进行Wiener过程辨识及退化建模。分析加速退化失效机理不变充要条件,建立加速退化失效机理一致性判别准则,确定金属化聚酯电容加速退化失效机理一致的应力区间。再次,提出金属化聚酯电容步进应力加速贮存试验设计及可靠性评估方法。建立包含约束条件和优化目标的金属化聚酯电容步进应力加速试验设计优化函数,对电容加速贮存试验的样本容量、试验总时长等试验变量进行优化。基于试验所得退化数据,建立金属化聚酯电容的退化模型,给出其贮存可靠度函数,完成贮存可靠性评估。最后,设计并实现金属化聚酯电容加速贮存敏感参数测试与分析系统。进行测试与分析系统硬件设计,实现电容特性参数准确测量的功能。进行测试与分析系统软件设计,编写FPGA时序逻辑算法和上位机人机交互界面程序,实现电容退化参数的高精度、自动化采集和存储。