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由于FPGA (Field Programmable Gate Array,现场可编程门阵列)的现场可重复性编程的特点,FPGA越来越被广泛的应用于航空、航天、通信、医疗等各个领域。随着集成电路工艺技术的不断进步,FPGA的集成度越来越高,功耗越来越低,功能也越来越强大,因此相对于ASIC (Application Specific Integrated Circuit)的劣势也在不断的减小,优势不断的凸显出来。FPGA内部不仅集成有大量的逻辑门,而且集成有大量的嵌入式IP核,如Block RAM、乘法器、DLL等,FPGA的发展方向也越来越向SoPC (System-on-a-Programmable-Chip)的方向发展。同时为了保证FPGA的可靠性与稳定性,FPGA的测试也越来越被重视。国内外的许多学者对FPGA内的逻辑资源与嵌入式IP核的测试方法进行了研究,并提出了多种测试方法。本文从FPGA内部的嵌入式IP核的可靠性问题出发,在本实验室开发的基于边界扫描和位流回读的FPGA测试系统的基础上开展了对Xilinx公司的Virtex Ⅱ系列FPGA中的Block RAM.乘法器等嵌入式IP核的测试方法的研究。本论文包含的内容主要包括以下几个部份：(1)、查阅Xilinx官方资料,对Virtex Ⅱ系列FPGA的内嵌IP核Block RAM、乘法器的工作原理及结构进行研究,以便更好的对Block RAM、乘法器进行功能性测试。(2)、本实验室开发了一个基于边界扫描和位流回读的FPGA测试系统,该测试系统硬件结构简单,只需要一跟USB-JTAG电缆线,主要是软件部分的实现,最大程度上削减了测试的硬件成本。(3)、查阅国内外相关资料,在本实验室开发的基于边界扫描和位流回读的FPGA测试系统的基础上,分别提出来了针对Block RAM、乘法器的测试方法,并在本实验室开发的FPGA测试系统上进行验证。本论文结合Virtex Ⅱ系列FPGA的实际结构,通过参考现有的测试方法,在本实验室开发的FPGA测试系统的基础上,分别提出了针对FPGA内部的嵌入式IP核Block RAM、乘法器的测试方法,并将我们的测试系统与测试方法有机的结合在一起,能够对FPGA内部的嵌入式IP核进行全自动化测试。