同步辐射光源的横向尺寸是表征同步辐射装置性能的重要参数。同步辐射光源的位置以及角度不稳定性会引起同步辐射相关实验结果的误差,也反映了同步辐射装置的不稳定性。选择适合北京同步辐射光源的截面大小和不稳定性的测量方法,有利于提高装置的性能,减小实验误差。　　 根据X射线小孔成像原理,针对北京同步辐射装置4W1A束线的空间布局,本文设计了一套测量同步辐射光源的截面尺寸以及位置不稳定性的系统；同时利用同步辐射可见光设计了一套测量同步辐射光源角度不稳定性的系统。通过对系统中小孔尺寸的优化,闪烁体点扩散函数的测量,闪烁体、显微物镜和CCD的选择,使X射线小孔成像系统的空间分辨率达到46.6μm,满足测量北京同步辐射几百微米的光源横向尺寸的需求。并且两套光学系统分别可以对1μm的位置变化量和1.5μrad的角度变化量进行分辨。