基于IDDT的CMOS数字电路故障诊断技术研究

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传统的基于电压测试的测试方法已得到了广泛的应用,但这种方法仍然无法有效地检测某些故障。作为电压测试方法的补充,电流测试方法能够提高故障覆盖率和产品的可靠性。瞬态电流提供了一个观测电路内部开关性能的新窗口,瞬态电流测试方法为进一步提高故障覆盖率提供了可能。  本文分析CMOS电路主要电流组成成份的物理意义和瞬态电流(IDDT)的特性,从瞬态电流(IDDT)中可以提取比静态电流(IDDQ)具有更丰富的故障信息。探讨了小波变换和神经网络的理论及应用于数字电路故障诊断的优势。针对数字电路中的桥接故障、电阻性开路故障,研究了瞬态电流(IDDT)测试与小波-神经网络相结合的数字电路故障诊断技术。利用小波变换技术对瞬态电源电流进行故障特征提取,BP神经网络用来进行故障类型的识别。为了降低故障样本的维数,采用主成分分析和归一化数据预处理,提高了神经网络的训练效率。该方法克服了传统故障字典方法的局限性,实现了数字电路快速和准确的故障定位。  通过对数字电路的仿真结果和数据分析表明,本文所采用的小波和神经网络故障诊断算法具有快速、准确的特点,达到了较理想的故障诊断效果。
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