本文以35kV及以下小容量干式铁心电抗器为研究对象,对电抗器结构进行探究,寻求铁心损耗和线圈损耗较小的合理结构。现有电抗器损耗和发热问题严重,且相同容量的电抗器,铁饼和气隙的分布对损耗造成的影响高达30%,气隙总长度、线圈探入深度等参数对损耗的影响远大于结构夹件产生的附加损耗,由此合理化的结构是减少漏磁、降低损耗的关键。保持一个变量,其余参数不变,绘制不同结构尺寸的电抗器二维模型,对不同结构布局的电抗器仿真分析,寻求损耗最小的合理结构,减少电抗器内部发热和损耗,提高电抗器的运行稳定性,并应用到电抗器的生产和设计中,为以后电抗器行业发展提供理论依据。电抗器铁心采用叠片形式,首先在Ansoft中绘制三维简化模型,通过仿真求解磁场分布情况,验证三维模型可用二维模型代替求解;然后在考虑安匝平衡的基础上,对开有气隙的铁心进行漏磁场分析,得出气隙处的磁场分布规律。保持总气隙长度不变,容量35kV及以下电抗器随着铁饼高度增加,对应的合理气隙长度也呈增加趋势,不同的铁饼高度下对应的合理气隙长度,50mm铁心饼,气隙设置为3mm时损耗最低;随后计算铁饼半径的改变对损耗的影响,得出电抗器随着铁饼半径增加不断增大。在此结构的基础上,保证中心磁密为0.9T,探究线圈的位置、端部气隙的大小以及主空道的距离对损耗的影响,得出合理的线圈探入深度控制在铁饼高度的100%附近;不同铁饼高度下的端部气隙越小损耗越少,端部气隙控制在0.5mm左右时结构合理,主空道距离对铁心损耗的影响不显著,随着主空道距离的增加铁心损耗略微减少;最后探讨气隙和线圈的不均匀分布对损耗的影响,随着气隙不均匀度的增加损耗增大,且中间处气隙大,向两端逐渐减少的气隙分布反而比完全均匀分布的气隙损耗低,随着线圈距铁轭的距离差增大损耗增大趋势,距离差控制在40mm时损耗最小,以上研究结果对电抗器减少损耗提高稳定运行提供理论依据。