中央处理器是计算机的心脏,也常被装载入主板后作为大型应用设备的主控制系统,承担着复杂的计算和指令控制,因此可靠的中央处理器是设备良好运行的保证,要求中央处理器具有良好的长期可靠性。研究中央处理器的生命周期,发现其失效率有一定的基本模式。产品在制造后初期,会表现出较高的失效率,此阶段称为早期失效期。经过早期失效期后,失效率会降低并稳定在某一具体值,这个阶段称为随机失效期。随着时间的推移,产品最终进入其寿命的末期,称为自然损耗失效期。由于芯片在早期失效期内有较高的失效率,为了保证出厂后的芯片能够在较长时间内可靠的工作,必须有一种可行的方法来加快早期失效的进程,使芯片在较短的时间内通过早期失效期进入稳定工作区域,即随机失效期。老化就是这样一种芯片寿命加速手段,使芯片及早通过早期失效期。在实际生产过程中,发现老化测试机台中,用于直流电压间转换的模块容易发生故障,导致老化成本升高。本文从老化测试的基本原理及老化测试机的具体应用结构出发,讨论直流转换器的关键电路和内部架构,探究直流转换模块频繁失效的原因,提出相应的改进方案。通过实验监测,发现经过数个老化测试周期后,直流转换器内保护管脚与控制电路板间的焊料发生断裂,导致直流转换器发生失效,并进而发现老化测试过程中中加诸于直流转换器上的以冷却为目的的热量循环是引发焊料发生断裂的原因。文中提出了三种解决方法:减少直流转换器与测试产品间的电阻以降低直流转换器上温度,改进直流转换器内场效应管管脚受应力方式,改变直流转换器上冷却循环方式以避免温度突变。通过考察改进前后所得的实验数据,改进方案被证实是可行性的。在实际的生产过程中,直流模块损耗率的确显著地下降了,直流转换器每周的需求量由原先每周700个逐渐降低到200左右,并保持稳定。这表明改进方案确实能够在极大程度上降低直流转换模块的失效率,减少了70%以上的失效率,提高了生产效率,每年节约生产成本达一百多万美金,从而大大降低老化成本。