近年来,随着高速器件的迅速发展,高速ADC电路应用越来越广泛,对于ADC输出之后高速处理电路的要求也越来越高。高速DMUX(多路解调器)芯片在降低传输速率的同时仍能保证数据的完整性,因而被广泛应用于通信和军事领域高速ADC输出之后的数据降速方面。高速DMUX芯片的使用,大大降低了ADC输出之后处理器的性能要求,降低了应用系统的设计难度和成本。而高速DMUX芯片由于其高速的特性,对其测试也提出了更高的要求,进一步,随着高速集成电路的广泛应用,既要满足性能测试,又要满足批量测试的自动测试技术和方法的研究显得尤为重要。基于上述原因,本论文以高速DMUX芯片作为研究对象,详细分析其结构、高速转换功能、转换模式、高速接口特性、供电特性等电路特点,设计一套适用于本芯片的PCB硬件电路,既能够满足芯片的测试需求,也符合ATE的测试能力。对于高速芯片,需要定制高速测试插座,以连接芯片和测试板。本文详细介绍了PCB板的设计结构、板材、设计规则等内容,以及ATE测试机的硬件测试能力、板卡特性等。论文中简单介绍了ATE对数字芯片的测试原理、测试方法和测试程序开发步骤等,同时提出了高速信号抖动测试的原理及方法,最后介绍了自动化测试的原理及方法。本论文的重点是基于ATE完成对高速数字信号的自动化测试,需要完成两个目标,第一是高速数字信号的功能及特性测试,第二是实现高速数字芯片的自动化测试。对于功能测试,ATE根据芯片设计方提供的测试向量,为芯片提供输入,并对输出信号进行比对,以这种方式进行功能测试,在功能正确的基础上,进行芯片的性能测试。自动化测试的完成,需要ATE与Handler配合使用,Handler通过GPIB通信接口,接收ATE传输的指令,指令主要是已测芯片的状态,Handler根据这些指令,将芯片进行分类存放,整个过程根据设置自动完成。