BESⅢ主漂移室性能研究以及数据质量监测

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北京谱仪BESⅢ是运行在北京正负电子对撞机(BEPCⅡ)上的探测器,它的物理目标是在τ-粲能区的精确测量和寻找新物理。BESⅢ共包括四个子探测器,从内向外依次为主漂移室(MDC),飞行时间计数器(TOF),CsI电磁量能器(EMC),μ探测器(MUC)。漂移室是BESⅢ的核心子探测器,测量有时间测量和电荷测量两部分。其中,时间测量的目的是将带电粒子的径迹和动量重建出来。BESⅢ漂移室是使用铝场丝、氦基混合气体,小单元结构的圆柱形漂移室,它工作于1T磁场中,具有很高的效率,很好的空间分辨(130μm)和动量分辨(0.5%@1GeV/c),以及较好的dE/dx分辨(6~7%),并且能在BEPCⅡ高亮度的条件下稳定运行。漂移室的性能主要从空间分辨,动量分辨,击中效率,Bhabha事例重建效率来衡量。本文对漂移室时间测量道的主要性能进行了研究。在取数过程中,对数据质量进行监测,以2010年12月12日至2011年5月3日这段时间为例,利用在线筛选的Bhabha事例样本,给出了漂移室的性能以及噪声的变化情况。在数据质量监测过程中,部分run的击中效率突然降低,经过分析发现是由于取数过程中漂移室工作高压trip造成的,为了便于从分析中去掉这些事例,开发了判断和丢弃工作高压trip时间内的事例的软件。  
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