论文部分内容阅读
该文利用广 角X射线衍射方法和TEM(Transmission Electron Microscopy)对电弧方法制备的镍超微粉的结构特点进行了分析和研究.并特别针对超微粉实际制备和研究中一个重要环节.即其颗粒组元的大小和分布测定.提出了利用X射线线形分析理论来计算颗粒组元的Rietveld-Fourier方法.