集成电路测试系统是对集成电路工作性能、电气参数测试的工具。最常用的使用方法是:集成电路测试系统读取测试向量,对被测芯片引脚施加输入激励,测试被测芯片的引脚输出响应,比较输出响应与预期响应来判断被测芯片是否达标。在进行集成电路测试的过程中,由于硬件无法实现理论上的无限大存储量,在某一时刻只能存储一部分的测试向量信息,因此需要一个机制及时的更换硬件内存信息。针对上述问题,本文设计了调度模块,确保硬件在合适的时侯更换内存,在测试时随时都能找到测试向量信息。调度模块在集成电路软件系统中有着承上启下的作用。本文对集成电路测试向量的调度与优化进行了以下研究:(1)从需求出发设计并实现了调度模块。调度模块实现了对测试向量的调度,确保了测试过程中硬件能够随时找到测试向量的真实信息,同时能够减少硬件内存的替换次数,缩短了测试时间,提高了测试效率。(2)设计了调度算法。调度过程需要一个调度算法来处理测试向量集,通过比较分析发现,调度机制与高速缓冲存储器Cache的最优页面替换算法OPT十分相似,因此本文以最优替换算法为基础,对其进行了优化改进,设计了适合本项目使用的调度算法。(3)由于测试向量中向量操作码Opcode的存在,操作码可以控制测试向量的位置,导致测试过程中会出现多种调度情况,本文针对这些调度情况进行了详细的分析与优化,所涉及的调度情况有11种。