透射电子显微镜作为微结构表征的主要手段之一,衍射图记录了样品倒易空间的信息,可用于确定晶体的晶相、对称性及晶体之间的取向等；显微图像记录了样品实空间的信息,其衬度可直观揭示材料微结构信息和空间分布等。透射电子显微图像的衬度主要有振幅衬度和相位衬度,而振幅衬度又可分为衍射衬度和质厚衬度。衍射衬度反映的是晶体内部的组织结构特征,对晶体结构的不完整性、缺陷、晶体的取向等细节非常敏感；质厚衬度反映的是样品的形貌特征,由样品中不同区域的平均原子序数或样品厚度差异引起；相位衬度是当电子束穿过非常薄的样品后,电子束的强度基本不发生变化,仅仅是电子的相位受到周期晶体势场的调制而形成不同的衬度,一定的条件下,相位衬度可反映晶体点阵甚至是原子的排列。本文介绍了透射电子显微镜衬度的形成机理及不同衬度的特点；以多晶铜为例,在透射电镜观察中实现了质厚衬度成像和衍射衬度成像的相互转换,介绍了其相互转换的原理及实现方法；同时利用高分辨透射电子显微成像对Tb离子掺杂CeV04稀土纳米材料的微观结构进行了研究。利用透射电镜的不同成像衬度模式能够在样品的同一视场中观察到更多的材料结构细节,可以在多层次和不同尺度上获得更丰富的微结构信息。