自从集成电路设计与制造进入深亚微米尺寸以来,其电路的复杂度和集成度不断提高,使得集成电路测试面临着越来越严峻的挑战。同时产生的巨大规模的测试数据量,不仅加重了自动测试仪(ATE)的存储容量和传输带宽负担,还会增加测试应用时间。因此,如何减少测试数据量是集成电路测试的挑战之一。本文主要针对测试向量压缩进行了研究,目的是在较小的硬件代价下,减少测试向量的规模,提高测试压缩率,从而减少所需ATE的存储空间和测试应用时间。本文的主要工作如下:(1)基于变换编码的测试激励编码压缩方法。该方法结合变换编码和编码压缩技术,通过K-L变换将原测试向量拆分为主分量和残分量两部分,将传统地对原测试向量的压缩转为对残分量的压缩,从而大大提高了测试压缩率。该方法利用hadamard矩阵来近似实现主分量,将结构复杂的K-L矩阵转化为结构简单的hadamrd矩阵,减少了硬件代价,其损失的压缩率在可接受范围内。实验结果表明该方法能有效提高测试数据压缩率,它的平均测试压缩率可达77.94%,分别高出FDR编码和双前缀编码压缩率20.68%和10.83%,hadamard矩阵近似实现后的平均测试压缩率达到71.88%。(2)基于K-L变换的多分量选取的测试激励压缩方法。该方法是对第一种方法的深入和拓展。它根据原测试向量做K-L变换后得到的频谱分量所占总能量的比重不同,选取多个频谱分量来合成主分量。实验结果表明选取的频谱分量个数越多,所得到的测试压缩率越高。选取3个频谱分量的情况下,平均测试压缩率可达79.08%。