软件内建自测试中测试用例的生成

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在信息科技高速发展的今天,软件已成为现代高新领域中不可缺少的一部分,被广泛地应用于通信网络,尖端武器以及日常办公处理中.但是,由于软件以人为本,是一个主观创造过程,因此在开发过程中,不可避免地存在着很多错误.且伴随着软件工程规模的迅速膨胀,软件的复杂度也在迅速地增加.此时,如何尽可能地通过软件测试来检测和预防错误,成了目前软件工程领域中一个重要的研究课题.目前,上海大学计算机学院徐拾义教授主持研究的国家自然科学基金项目"软件内建自测试技术(Built-in-self-test for software,简称软件BIST)"是软件测试研究领域中的一个新概念."BIST"技术在硬件的可测性设计上是一个比较成熟的技术,我们把这个技术的思想移植到软件测试中,来设计软件自测试系统的框架.主要包括两大部分:一,模板(Template)部分.二,自治测试部分.其基本思想是:首先为程序设计员提供一套预先设计好的模板,这套模板要求程序员在编写程序时必须满足模板中提出的相关条件,并在模板中输入所要求的有关数据.由模板对所编写的程序进行"包装"(包括设置checkpoint,生成测试用例,结果比较等),然后,由自治测试部分根据模板中信息生成一定的测试用例,并在checkpoint上进行比较和测试,以完成基本的测试功能.作为项目的一部分,本论文主要讨论了怎样使用模板所提供的数据库,来生成符合一定覆盖标准的测试用例.其中,为了使生成的测试用例达到较高的故障覆盖率,我们研究了一种二叉化程序块流程结构的方法,并根据二叉化后的程序结构来生成测试用例.该方法是基本路径法的扩展,是一种全新的思想.目前已经实现了对简单程序块的二叉化测试分析工作,提供给本系统其他模块高标准的测试用例.将来进一步的工作是要使该方法更加完善,适用面更广.另外本文还探讨了要做的其他部分工作:包括测试结果的比较及测试报告的自动生成部分.软件内建自测试是软件测试中的新生技术,这种新方法为软件测试领域开拓了一个崭新的发展方向,通过将已经发展成熟的硬件内建自测试技术(BIST)用于软件测试将有效地提高测试效率.该方法有着广阔的发展前景.
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