聚合物在电气、电子绝缘中应用极为广泛,但其中的空间电荷诱导的局部电场畸变,将对绝缘材料的老化和击穿特性带来巨大的影响。空间电荷往往是各类陷阱的俘获造成的,陷阱的性质决定着电荷的存贮和输运。光激发放电法(Photo Stimulated Discharge-PSD)与热刺激电流法(Thermally Stimulated Current-TSC)是研究聚合物材料中陷阱结构及其所控制的空间电荷存贮及输运特性的工具。相比于热刺激方法,光激发放电法可以测量到聚合物中大于3eV的深电荷陷阱。更重要的是,光激发放电法是一个等温测量过程,避免了热刺激方法中因温度升高致使分子运动加剧给陷阱造成的热侵蚀,可以更真实地表征给定温度下陷阱的本征特性。因此,光激发放电法提供了一个能够在更宽的能谱范围内更加准确地测量陷阱深度的有效手段。本文分析了光照在聚合物上可能发生的光电子过程,对光激发放电方法研究聚合物陷阱态参数做了较充分的分析,并搭建了以波长可调谐激光器为激发光源的新型光激发放电测量系统。该系统利用计算机控制激光器的输出波长并记录下静电计所测得的光激电流,具有很高的自动化程度,从波长与光激电流的光谱中便可以得出聚合物陷阱参数的信息。实验部分中首先利用红外以及拉曼光谱证实了该激发光源并未对材料的结构造成光损伤,验证了该测量装置的安全性。之后针对典型聚合物聚酯和聚酰亚胺材料的光激发放电实验证明了该装置测量聚合物陷阱深度的有效性。