集成电路的规模逐渐增大,测试数据量也不断增多,这使得测试数据存储代价上升和测试应用时间延长,最终导致芯片测试成本增加。而如今,芯片制造的大部分成本都是测试带来的,降低测试成本是集成电路领域迫切需要解决的问题。测试数据压缩可以有效地减少测试数据量,缩短测试应用时间和降低测试功耗,已经成为测试领域一个十分重要的研究内容。测试时,先将压缩后的测试数据保存在测试仪中,然后将它送入芯片解压并进行测试。本文主要对测试激励数据压缩进行研究,并做了以下几个方面的工作:(1)提出一种基于参考位流相容变换的测试数据压缩方法。该方法在变换拆分压缩方法的基础上进行,将原始位流通过变换后得到的残分量与参考位流进行相容检测,如果原位流通过变换可以找到一个主分量,使得它对应的残分量与参考位流相容,那么这个残分量就可以使用参考位流代替。如果原始位流通过变换不能找到一个主分量,使得变换后的残分量与参考位流相容,就把参考位流更换为这个位流,继续变换。该方法最后将测试集拆分成一个主分量集和一个参考位流集,电路测试时,通过异或方法还原,然后加载到被测电路中进行测试。该方法硬件开销较小,同时可以提高编码效率。实验表明,采用变长输入哈夫曼编码,实验测试集的平均压缩率可以达到78.62%(2)提出一种使用修改变换矩阵提高测试数据压缩率的方法。在基于拆分的测试数据压缩方法基础上,我们更改变换所采用的哈达玛矩阵,将哈达玛矩阵的前几位编码个数增多。使得变换矩阵更匹配原始位流中前面确定位多、后面确定位少的特点。使用该方法,实验结果表明,采用使用哥伦布编码,采用修改的哈达玛矩阵比使用原始矩阵平均压缩率提高1.32%。上述方法使用交替游程编码进行编码,平均压缩率比原始拆分的方法提高4.53%。以上两种方法,硬件代价都比较简单,可以完全的还原测试数据,不打乱测试向量的顺序,保证了测试集的故障覆盖率不变。对本文方法进行实验,结果表明结合两种方法,可以明显提高测试数据的平均压缩率。